Неразрушающий контроль микросоединений

Установка АОИ полупроводниковых пластин

Система автоматической оптической инспекции (AOI) предназначена для выявления дефектных полупроводниковых пластин и предотвращения их дальнейшего использования в производственном процессе. Использует методы машинного обучения и инфракрасной визуализации для выявления внутренних и поверхностных дефектов, невидимых невооруженным глазом.